AFM 常指 Atomic Force Microscopy / Atomic Force Microscope（原子力显微镜/原子力显微术）：一种利用微小探针与样品表面之间的力（如范德华力等）来获取纳米尺度表面形貌与性质信息的扫描探针显微技术。
（在其他语境中也可能是其他缩写，但最常见于材料、物理、化学与生物成像领域。）
/ˌeɪ ɛf ˈɛm/
We used AFM to measure the surface roughness of the film.
我们用 AFM 测量了薄膜的表面粗糙度。
AFM imaging revealed nanoscale features that were invisible under an optical microscope, helping us understand how the polymer degraded over time.
AFM 成像揭示了光学显微镜下看不见的纳米尺度特征，帮助我们理解该聚合物如何随时间发生降解。
AFM 是一个首字母缩略词，来自 Atomic Force Microscopy（原子 + 力 + 显微术）。该技术与“扫描探针显微镜（SPM）”家族密切相关，发展于 20 世纪 80 年代，用于在纳米尺度研究材料表面与力学/电学等性质。
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